<address id="tf9xp"><listing id="tf9xp"></listing></address>

                        <address id="tf9xp"><nobr id="tf9xp"><meter id="tf9xp"></meter></nobr></address>

                        <form id="tf9xp"></form>

                          鉑悅儀器(上海)有限公司

                          您當前的所在位置為:首頁>產品中心>反射膜厚儀>反射膜厚儀
                          相關文章

                          反射膜厚儀

                          更新時間:2021-03-02

                          產品品牌:Semiconsoft

                          產品產地:德國

                          產品型號:MProbe系列

                          產品描述:反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。

                          產品概述

                          當一束光入射到薄膜表面時,薄膜上表面和下表面的反射光會發生干涉,干涉的發生與薄膜厚度及光學常數等有關,反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。

                          反射膜厚儀是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術。

                          測量范圍: 1 nm - 1 mm

                          波長范圍: 200 nm -8000 nm

                          光斑尺寸:2um -3 um

                           

                          標準配置中包含:

                          1. 主機(光譜儀,光源,電線)

                          2. 反射光纖

                          3. 樣品臺及光纖適配器

                          4. TFCompanion軟件

                          5. 校準套裝

                          6. 測試樣品,200nm晶圓

                           

                          廣泛的應用于各種工業生產及工藝監控中:

                          半導體晶圓,薄膜太陽能電池,液晶平板,觸摸屛,光學鍍膜,聚合物薄膜等

                          半導體制造:· 光刻膠          · 氧化物        · 氮化物

                          光學鍍膜:· 硬涂層          · 抗反射涂層         · 濾波片

                          生物醫學:· 生物膜厚度         · 硝化纖維

                          在線留言
                          聯系我們

                          電話:86-021-37018108

                          傳真:86-021-57656381

                          郵箱:info@boyuesh.com

                          地址:上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室

                          Copyright © 2013 鉑悅儀器(上海)有限公司 版權所有 備案號:滬ICP備10038023號-1
                          国产 学生 国产女合集第六部