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                          鉑悅儀器(上海)有限公司

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                          • 手持式X熒光光譜儀

                            手持式X熒光光譜儀S1 TITAN重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)、是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀。

                          • 科研手持XRF光譜儀

                            TRACER 5g采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

                          • 微區X射線熒光光譜儀

                            微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

                          • TXRF全反射X射線熒光光譜儀

                            快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。

                          • 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS

                            M4 TORNADOPLUS是能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

                          • 便攜臺式xrf分析儀

                            便攜式XRF分析儀適用于在實驗室外檢測固體、粉末和液體。

                          • 手持式土壤重金屬分析儀

                            手持式土壤重金屬分析儀實現了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb(鉛),As(砷),Cd(鎘),Hg(汞),Cu(銅),Ni(鎳),Zn(鋅),Cr(鉻)等有害元素,能夠實時對廠區、礦區、重工業區周.....

                          • 探針式輪廓儀系統

                            新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面板制造業。

                          • 臺階儀-表面輪廓儀

                            德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。

                          • 光學輪廓儀

                            ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。

                          • 3D掃描儀 MICRON3D green

                            同時碳纖維結構的耐受能力強,適用于寬廣的溫度范圍。

                          • 薄膜厚度

                            薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離,而實際上,薄膜的表面是不平整,不連續的,且薄膜內部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等。

                          • 反射膜厚儀

                            反射光譜干涉法是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。

                          • Dimension FastScan

                            掃描速度快、分辨率高的的原子力顯微鏡Dimension FastScan

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                          鉑悅儀器祝大家2021年元旦快樂! 2020-12-30

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